報(bào)告題目：二維器件的掃描探針研究

報(bào)告人：薛加民 研究員

主持人：鐘妮 研究員

時(shí)間：3月9日下午15:00

地點(diǎn)：閔行校區(qū)物理樓226報(bào)告廳

報(bào)告人簡介：

上?？萍即髮W(xué)研究員，博士生導(dǎo)師。2006年于中國科技大學(xué)獲得物理學(xué)士學(xué)位，2012年于美國亞利桑那大學(xué)獲得物理學(xué)博士學(xué)位。2014年加入上海科技大學(xué)任研究員、博士生導(dǎo)師。從事低維材料及其器件的掃描隧道顯微鏡和輸運(yùn)研究。作為通訊作者在Physical Review X, Advanced Materials，Review of Scientific Instruments等雜志發(fā)表論文近20篇。

報(bào)告摘要：

基于二維材料的器件近來得到了廣泛的關(guān)注。各種二維電子學(xué)和光電子器件、異質(zhì)結(jié)器件等，展示出了豐富的功能。另一方面，通過精確控制兩個(gè)單層二維材料之間的轉(zhuǎn)角，人們也實(shí)現(xiàn)了諸如超導(dǎo)態(tài)、鐵電態(tài)等奇異的物性。而這些功能和物性都是由器件的微觀電子結(jié)構(gòu)所決定的，對(duì)其進(jìn)行測量是理解它們宏觀性質(zhì)的重要依據(jù)。本次報(bào)告將介紹我們近期在該領(lǐng)域所做的一些工作。主要包括利用新型接觸式掃描隧道能譜方法對(duì)二維半導(dǎo)體器件能帶結(jié)構(gòu)的原位測量，以及利用傳統(tǒng)掃描探針方法對(duì)二維轉(zhuǎn)角體系電子結(jié)構(gòu)的測量。